AE-363D 超高速高精1kHZ數(shù)位電容檢測(cè)計(jì) 電容計(jì)
- 檢測(cè)測(cè)量值異常，在2端子(4端子)測(cè)量時(shí)也做探針接觸不良檢出
- 4端子接觸檢查三種模式選擇：測(cè)量前/測(cè)量後/OFF(不接觸)
- 超高速：1msec.（測(cè)量中時(shí)間）
- 從微小容量到大容量廣泛範(fàn)圍的測(cè)量量程(20pF～200μF範(fàn)圍)
- 測(cè)量頻率：1kHz ± 0.1% (正弦波形)
- 5端子測(cè)量方式
- 通過(guò)內(nèi)建比較器功能判斷HI / GO / LO輸出
- 3 1/2位( 1999 )數(shù)字表示
- RS-232C介面為標(biāo)準(zhǔn)配備（GP-IB選購(gòu)）
- 印表機(jī)輸出為標(biāo)準(zhǔn)配備（符合Centronics）
- 測(cè)量時(shí)可列印輸出：測(cè)量值，σ，3σ，max，min，日期，時(shí)間..等數(shù)據(jù)
測(cè)量范圍及基本精準(zhǔn)度（D＜0.1周圍溫度23℃±5℃）
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測(cè)量範(fàn)圍 |
基本精確度 |
測(cè)量電壓 |
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20pF |
±0.2% of rdg±3digit以內(nèi) |
１Ｖ |
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200pF |
±0.2% of rdg±2digit以內(nèi) |
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2nF |
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20nF |
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200nF |
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2μF |
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20μF |
１Ｖ以 下 |
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200μF |
±0.5% of rdg±3digit以內(nèi)[100μF≧] (±0.5% OF rdg±3digit)×測(cè)定值/100以內(nèi)[100μF＜] |
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測(cè)量方式 |
5點(diǎn)端子測(cè)量方式、並聯(lián)等效電路 |
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測(cè)量頻率 |
1kHz±0.1%、正弦波 |
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寄生電容修正範(fàn)圍 |
約20pF |
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溫度係數(shù) |
±100ppm/℃以內(nèi) |
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測(cè)量時(shí)間 |
【外部啟動(dòng)】1.9msec.～11.5msec. 【空轉(zhuǎn)】5～14次/秒 |
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比較器設(shè)定範(fàn)圍 |
HI/LO和19.99 |
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周圍使用環(huán)境 |
溫度：0℃～+50℃、 濕度：85%以下 |
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所需電源 |
AC85V～265V、50～60Hz、約50VA |
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外形尺寸 |
333(W)×99(H)×300(D)mm（不含底部橡膠等突區(qū)部分。） |
廣州市番禺區(qū)東環(huán)街番禺大道北537號(hào)番禺節(jié)能科技園內(nèi)番山創(chuàng)業(yè)中心1號(hào)樓3區(qū)703號(hào)之二
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